工控網(wǎng)首頁
>

產(chǎn)品選型

>

NI最新模塊化儀器套件有效擴(kuò)展PXI系統(tǒng)在半導(dǎo)體測試領(lǐng)域中的應(yīng)用

NI最新模塊化儀器套件有效擴(kuò)展PXI系統(tǒng)在半導(dǎo)體測試領(lǐng)域中的應(yīng)用

2009/11/24 13:38:54
產(chǎn)品簡介:

美國國家儀器推出10款最新DC、數(shù)字、射頻和開關(guān)設(shè)備在混合信號(hào)芯片測試中有效提升靈活性并減低成本。

產(chǎn)品分類:

嵌入式系統(tǒng) 工控元器件 半導(dǎo)體器件

品牌:

美國國家儀器

產(chǎn)品介紹

2009年11月,NI近日發(fā)布10款最新PXI產(chǎn)品,有效擴(kuò)展PXI進(jìn)行混和信號(hào)半導(dǎo)體測試的功能。全新以軟件定義的產(chǎn)品套件專為NI LabVIEW圖形化開發(fā)系統(tǒng)而設(shè)計(jì),包含四個(gè)高速數(shù)字I/O(HSDIO)儀器、兩個(gè)數(shù)字開關(guān)、兩個(gè)增強(qiáng)射頻儀器、一個(gè)高精度源測量單元(SMU)和專用數(shù)字?jǐn)?shù)字矢量文件導(dǎo)入軟件。全新的NI PXI半導(dǎo)體套件包含多種新特性,包括200 MHz單端數(shù)字I/O、10 pA電流分辨率、快速多頻帶射頻測量、直流/數(shù)字開關(guān)和波形發(fā)生語言(WGL)以及IEEE 1450標(biāo)準(zhǔn)測試接口語言(STIL)文件導(dǎo)入功能。


PXI半導(dǎo)體套件進(jìn)一步提升了PXI系統(tǒng)測試通用半導(dǎo)體設(shè)備的性能,例如測試
ADCDAC、電源管理IC無線IC電機(jī)系統(tǒng)(MEMS設(shè)備。由于其配備的高級(jí)功能,相比常用于半導(dǎo)體設(shè)備的特征采集、驗(yàn)證和生產(chǎn)測試的傳統(tǒng)箱式儀器和自動(dòng)化測試設(shè)備(ATD)解決方案,這個(gè)套件提供了更高的吞吐量、更強(qiáng)的靈活性和更快的開發(fā)時(shí)間。


來自NI的全新混和信號(hào)PXI儀器套件能夠?qū)?/em>WGLSTIL設(shè)計(jì)向量,驗(yàn)證我們IC設(shè)計(jì)的數(shù)字協(xié)議和關(guān)鍵時(shí)間參數(shù)。PXILabVIEW為我們提供了靈活的混和信號(hào)特征提取平臺(tái),可以用來快速配置定制的測試,降低產(chǎn)品總開發(fā)時(shí)間和評(píng)估成本。

David Whitley
ADI公司工程師

HSDIO儀器的NI PXIe-654x系列儀器包括四個(gè)全新模塊,提供了高達(dá)200 MHz的單端時(shí)鐘速率和高達(dá)400 Mbps的數(shù)據(jù)速率,讓工程師能夠測試高速芯片設(shè)計(jì),并使用更快的自定制通信協(xié)議。這個(gè)系列中的高級(jí)數(shù)字模塊包括多種附加特性,例如雙向通信、實(shí)時(shí)比特位比較、雙數(shù)據(jù)傳輸速率、不同I/O線路的多種定時(shí)延遲以及從1.2 V至3.3 V范圍中選擇22個(gè)不同電平的功能,提高了數(shù)字I/O測試的靈活性。這些新型的I/O設(shè)備擴(kuò)展了NI PXI-654x、PXI-655x和PXI-656x系列高速數(shù)字設(shè)備,提供了總共10種高達(dá)200 MHz帶有單端和LVDS電平功能的PXI儀器。


新的
NI PXI-4132高精度源測量單元(SMU)提供了低至10 pA的電流靈敏度,用于高分辨率電流測量。它帶有遠(yuǎn)程(四線制)傳感和單一輸出的外部保護(hù),在一個(gè)PXI插槽中提供了高達(dá)±100 V的電壓承受能力。SMU還提供了多個(gè)其他改進(jìn),包括板載 硬件序列引擎,可用于硬件定時(shí)、高速曲線跟蹤和在PXI背板觸發(fā)和同步多個(gè)PXI-4132 SMU的能力。PXI-4132作為現(xiàn)有的已提供四象限40 W功率輸出(±20V、±2A)的NI PXI-4130 SMU的補(bǔ)足,為PXI提供了高精度和高功率源測量選項(xiàng)。


新型的
NI PXI-2515NI PXIe-2515數(shù)字開關(guān)通過幫助工程師將精確直流儀器直接復(fù)用到連接在被測芯片的HSDIO線路上,進(jìn)一步增強(qiáng)了PXI產(chǎn)品套件。全新開關(guān)還提供了改進(jìn)的信號(hào)連接特性,用于參數(shù)測量,同時(shí)還保持了在高速數(shù)字邊沿上的信號(hào)完整性。


全新
NI PXIe-5663ENI PXIe-5673E 6.6 GHz射頻PXI Express矢量信號(hào)分析儀和矢量信號(hào)發(fā)生器使用稱為射頻列表模式的新特性,通過射頻配置中的快速和確定性的變化,提供了增強(qiáng)的測量速度。全新功能使工程師通過下載預(yù)配置的儀器參數(shù),在不同的射頻配置之間快速循環(huán)成為可能。這在測試功率放大器和其他需要驗(yàn)證多個(gè)頻率性能的RFIC中尤其有用。這個(gè)增加的功能幫助射頻工程師進(jìn)行比傳統(tǒng)儀器更快的多頻帶射頻測量。


PXI半導(dǎo)體套件還提供了一種有效導(dǎo)入WGL和STIL數(shù)字矢量格式的解決方案,從而簡化了使用NI PXI高速數(shù)字產(chǎn)品的設(shè)計(jì)到測試整合。全新的
用于NI軟件的TSSI TD掃描是NI與Test Systems Strategies, Inc.(TSSI)合作的產(chǎn)物,它使得半導(dǎo)體測試工程師將WGL和STIL仿真向量導(dǎo)入PXI系統(tǒng)稱為可能,過去這需要定制軟件開發(fā)??梢栽?/font>www.ni.com得到WGL/STIL軟件工具的評(píng)估版,它支持所有的NI PXI-654x、PXI-655x以及PXI-656x HSDIO系列產(chǎn)品。完整版本可以直接從TSSI購買。


欲了解更多關(guān)于PXI半導(dǎo)體套件信息,敬請?jiān)L問
ni.com/automatedtest/zhs



關(guān)于NI
美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱NI)致力于為測試測量、自動(dòng)化和嵌入式應(yīng)用領(lǐng)域的工程師和科學(xué)家們帶來革命性的理念,從“虛擬儀器技術(shù)”提升到“圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)”,幫助他們實(shí)現(xiàn)更高效和優(yōu)化的設(shè)計(jì)、原型到發(fā)布。NI為遍布全球各地的25000家不同的客戶提供現(xiàn)成即用的軟件(如NI LabVIEW圖形化開發(fā)平臺(tái)),和高性價(jià)比的模塊化硬件。NI總部設(shè)在美國德克薩斯州的奧斯汀,在近40個(gè)國家和地區(qū)設(shè)有分支機(jī)構(gòu),共擁有5,000多名員工。在過去連續(xù)9年里,NI被《財(cái)富》雜志評(píng)選為“全美最適合工作的100家公司之一”。想了解更多關(guān)于NI的信息,請?jiān)L問
ni.com/china,或致電800-820-3622。

投訴建議

提交

查看更多評(píng)論
其他資訊

查看更多

NI與中汽研數(shù)據(jù)資源中心共建智能網(wǎng)聯(lián)汽車虛擬仿真聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室

電氣化迫使測試工程師加快速度

NI與NanoSemi合作開展先進(jìn)的5G測試

NI在CIDEX 2018上強(qiáng)調(diào)助力中國新一代軍工技術(shù)騰飛

得益“跨界&生態(tài)”先天基因,NI加盟ECC力推邊緣計(jì)算落地行業(yè)應(yīng)用